产生源内裂解现象的主要原因有:①毛细管高压过大,导致目标物在带电过程中结构被破坏;②离子源温度过高,使得一些热不稳定的目标物分解;③锥孔和进样孔之间的去簇电压过大,一些高分子聚合物在ESI源内电离雾化后,会形成一系列带多电荷的离子碎片,加去簇电压的目的则是为了避免这些多电荷离子簇合,去除离子簇,从而增加待测物在检测器中的信号强度,去簇电压过大则会导致在去簇过程中打碎目标物,造成源内裂解。
源内裂解对于质谱分析检测有利有弊,有利的方面例如,在分析高分子聚合物时,会产生数量庞大的不同的目标母离子,且有一大部分的母离子质荷比会超过质谱的检测范围,而传统的MRM分析模式同时分析不同母离子的数量的能力有限,对分析造成一定的困难。这些聚合物一般具有相同的结构单元,这时通过加大去簇电压,可以使这些带电聚合物离子碎裂成质荷比较为单一的母离子,简化分析过程。弊端则比如在进行药物代谢分析时,一些目标物代谢物发生源内裂解时会产生原目标物离子。在色谱分离不佳的情况下,若目标物代谢物和目标物同时被洗脱电离,而目标物代谢物发生源内裂解,则会导致目标物测定浓度偏高。